可靠性測試>氣候環(huán)境可靠性測試>冷熱沖擊測試：可靠性測試是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評(píng)價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和儲(chǔ)存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。

冷熱沖擊測試箱又名冷熱沖擊試驗(yàn)箱，是用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。可以說冷熱沖擊試驗(yàn)箱在驗(yàn)證和提高裝備的環(huán)境適應(yīng)性方面應(yīng)用的頻度僅次于振動(dòng)與高低溫試驗(yàn)。是評(píng)估電子元器件或其它測試樣品經(jīng)溫度變化或溫度連續(xù)變化環(huán)境下所受之影響。

冷熱沖擊測試箱特點(diǎn)：
三箱設(shè)備區(qū)分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試產(chǎn)品置于測試區(qū)，沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進(jìn)行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。
采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。
沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測試區(qū)，做冷熱沖擊測試。
高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，最大時(shí)間可達(dá)999H，最大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
可以試驗(yàn)沖擊常溫執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法: GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn);GJB360.7溫度沖擊試驗(yàn);GB/2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)

冷熱沖擊測試箱滿足的測試標(biāo)準(zhǔn)：
GJB 150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
GB/T 2424.13-2002 溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
GB/T 2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.1-2008/IEC 6008-2-1-2007 低溫試驗(yàn)方法
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件規(guī)格